该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器 、 3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用，且该分析仪工作流程已经被最优化，不但能够将散逸损失降至 最低，而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径 分辨率。
产品详情
特点优势
特点和优势
分析从1到50nm粒径的颗粒物
SMPS（扫描电迁移粒径谱仪）的关键组件
技术参数
应用范围
应用
颗粒物粒径测量
荣耀资质
合作客户
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